第1章-半导体基础元件于非线性电路


第1章-半导体基础元件于非线性电路

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$大_{大} V_D:直流量,常数(手册有)$

$小_{小} i_d:交流量$

$大_{小} V_{im}:交流有效值 幅值$

$小_{大}:交流直流之和的瞬时总量,(既有直流又有交流)$

1.1 本征半导体

半导体:导电能力介于导体和绝缘体之间的一种物质。(常见半导体材料:硅晶体、锗晶体、砷化镓化合物等)

一个硅原子会与四个相邻的硅原子形成共价键结构。

本征半导体:纯净的、不含杂质(纯度$99.9999999%$)的半导体

共价键的束缚力很强,当热力学温度为零度,而且没有其他外界能量激发的时候,价电子全部会束缚在共价键中,晶格中没有自由移动的载流子,所以此时的半导体不导电,相当于绝缘体。

本征激发:当温度升高/光照加强时,会产生自由电子空穴对这种现象。

自由电子(热激发产生)和空穴(价电子挣脱束缚后留下的空位)是成对出现的,称为自由电子空穴对。

自由电子带负电荷,可自由移动;空穴带与电子等量的正电荷,也可移动。

空穴的移动反映了价电子的移动,价电子移动方向与空穴移动反向相反。即,空穴能自由移动而参与导电。这样,可以用空穴移动产生的电流代表价电子移动产生的电流。可以把空穴看成一种可移动的带电粒子。

载流子:参与导电的粒子。半导体中有两种载流子:自由电子和空穴。

复合:自由电子和空穴相遇而同时消失。外部条件不变时,载流子的产生和复合处于动态平衡之中。


1.2 杂质半导体

半导体中的热敏性、光敏性、参杂性

热敏性:温度升高,导电能力显著提高
光敏性:光照加强,导电能力显著变化
参杂性:本征半导体加入杂质,导电能力显著提高

本征半导体 –加杂质元素–> 杂质半导体

掺入少量杂质元素产生的空穴/自由电子数目远大于本征激发产生的载流子数目

添加的杂质主要是三价/五价元素:硼 B、磷 P 等

  • P型半导体(+3价杂质,如 B)

三价杂质接收电子 -> 受主杂质

杂质元素 –常温电离–> $\begin{cases}空穴(可以自由移动,参与导电)\\ 负离子(不能自由移动,不参与导电)\end{cases}$

P型半导体(空穴半导体)$\begin{cases}多子——空穴(产生:杂质电离(主要) + 本征激发)\\ 少子——自由电子(产生:本征激发)\end{cases}$

P半导体简化模型表示:

  • N型半导体(+5价杂质,如 P)

五价杂质接收电子 -> 施主杂质

杂质元素 –常温电离–> $\begin{cases}自由电子(可以自由移动,参与导电)\\ 正离子(不能自由移动,不参与导电)\end{cases}$

N型半导体(电子半导体)$\begin{cases}多子——自由电子(产生:杂质电离(主要) + 本征激发)\\ 少子——空穴(产生:本征激发)\end{cases}$

N半导体简化模型表示:

杂质半导体呈电中性$\begin{cases}多子浓度主要取决于参杂浓度\\ 少子浓度取决于本征激发\end{cases}$


1.3 PN结及其单向导电性

  • PN结正偏特性:正向导通

呈小电阻特性,理想情况下相当于开关闭合,处于导通状态。

外电场与内电场方向相反,内建电场减弱 -> 多子扩散 -> 多子向PN结移动,中和部分离子 -> 阻挡层(耗尽层)变窄 -> 多子扩散形成扩散电流 -> PN结导通

电压 $V_D$ 略微升高,电流 $i_D$ 显著升高

导通电压:$V_{D(on)} \approx \begin{cases}0.7V & (Si)\ 0.2V & (Ge)\end{cases}$

  • PN结反偏特性:反向截止

呈大电阻特性,理想情况下相当于开关断开,处于截止状态。

外电场与内电场方向相同,内建电场增强 -> 少子漂移 -> 多子背离PN结移动,中和部分离子 -> 阻挡层变宽 -> 少子漂移形成扩散电流 -> PN结截止

  • PN结单向导电的伏安特性

1.4 二极管简介

常见封装形式的二极管:有特殊色环/色带对应的电极是阴极

  • 二极管的特性

伏安特性方程:${\large i_D \approx I_S (e^{\frac{\nu_{D} }{V_{T} } } - 1)}$
此方程只描述单向导电特性、温度特性和电容特性。

开启电压/门坎电压(二极管$\approx$0.5V,Si 0.7V,Ge 0.2V):只有正偏电压超过一定电流值时,电流才明显增加。

  • 硅二极管的伏安特性曲线:正向特性、反向特性、反向击穿特性

二极管的正向压降近似等于导通电压,反向电流近似为反向饱和电流


1.5 二极管简化模型

工程上,使用二极管的简化模型代替其指数模型——使用分段线性

  • 二极管的几种简化模型

    • 直折线模型
    • 恒压降模型
    • 理想模型
    • 小信号模型(前三种都是打信号模型)
  • 大信号模型建模思路:使用分段线性方法,把二极管非线性关系近似表示为几段线性关系

    • 大电压大电流工作的等效模型
    • 只反映二极管的单向导通型
    • 关键判断二极管是导通还是截止
  • 小信号模型

    • 高频工作时,还需考虑二极管的结电容特性

工程上,使用简化模型分析、设计二极管电路,但是最终工程实现和电路优化时,使用复杂模型进行精度误差分析。

根据二极管的伏安特性曲线和方程:二极管的动态电阻 $r_d$ 随着加在其两端的电压增大而增大。


1.6 二极管应用电路之整流电路

若电路中有多个二极管,正偏电压最大的二极管优先导通

  • 判断二极管导通/截止

理想二极管:$V_D > 0$ 导通,反之截止
实际二极管:$V_D > V_{D(on)}$ 导通,反之截止

当电路中有多个二极管时,正偏电压最大的管子优先导通,其余管子需要重新分析其工作状态

  • 半波整流电路

使用二极管的理想模型分析电路

  • 桥式整流电路

使用二极管的理想模型分析电路


1.7 二极管应用之限幅电路及开关电路

  • 限幅电路
  • 开关电路

设:二极管的导通电压为$V_{D(on)}=0.7V$


1.8 二极管的小信号应用

  • 等效电路法
  • 图解分析法

1.9 稳压二极管

稳压二极管由特殊工艺制作的二极管,可以在反向击穿状态下工作。(稳压管正常工作都处于反向击穿状态)

击穿电压 $V_{BR}$:反向击穿所需要的电压称为击穿电压(击穿原因:破坏原子中共价键的束缚,使自由电子空穴对数目急剧增加造成)

${击穿} = \begin{cases}热击穿_{(不可逆,必须避免)}:PN 结烧毁{i_D \cdot v_D > P_M}\\ 电击穿_{(可逆,可以利用)}:PN 结未破坏_{(断点/降压恢复)}{i_D \cdot v_D < P_M}\end{cases}$,$P_M$ 为 $PN$ 结耗散功率

若反向电流小于 $I_{Zmin}$,稳压管就会回到截止状态,即无法稳压;
若反向电流大于 $I_{Zmax}$,稳压管可能被热击穿

稳压管正常工作时,处于反向击穿状态,所以,电路中电压电流的参考方向与普通二极管相反,即反向击穿电压和反向电流都标注为正值。


1.10 双极结型三极管结构

$BJT$

箭头标注在发射极上,表示发射结正偏时电流的实际方向,由 $P \to N$

基区薄,减少基区复合概率,保证发射区载流子能扩散到集电结边界。


1.11 双极结型三极管导电原理

  • 三极管工作状态 & 外部条件:

    • 放大模式:发射结偏,集电结
    • 饱和模式:发射结正偏,集电结正偏
    • 截止模式:发射结反偏,集电结反偏
  • 放大模式(放大电流)


    - ${\large \alpha = \frac{收集电流}{发射电流} = \frac{i_{Cn} }{i_{En} } }$
    - ${\large \beta = \frac{收集电流}{复合电流} = \frac{i_{Cn} }{i_{En} - i_{Cn} } = \frac{i_{Cn} }{i_{Bn} } }$
    - ${I_C \approx \beta I_B} \approx \alpha I_E ,~ I_E \approx (1 + \beta)I_B$
  • 三极管的正向受控作用

NPN,发射极电压最低

PNP,发射极电压最高

  • $(a) ~ \because V_{BE} = 0.7V, V_C = 5V ,~ \therefore V_E = 0V, V_B = 0.7V ,~ NPN硅管$
  • $(b) ~ \because V_{BE} = 0.3V, V_C = -10V ,~ \therefore V_E = -5V, V_B = -5.3V ,~ PNP锗管$

1.12 三极管伏安特性曲线

集电极不能做输入;基极不能做输出。

  • 共发射极

输入特性:$i_B = f(v_{BE})|_{v_{CE} = _{常数} }$

输出特性:$i_C = f(v_{CE})|_{i_B = _{常数} }$

  • 三极管的输入特性曲线

$V_{CE} < 1V$ 说明工作在饱和区

$V_{CE} \ge 1V$ 说明工作在放大区,$V_{BE}$ 为发射结导通电压

基区宽度调制效应:NPN:

$V_{CE} = V_{CB} + V_{BE}$,$V_{BE}$ 几乎不变,$V_{CE}$ 增大,$V_{CB}$增大,

CE 结电压变大(从发射极到集电极的引力越大,速率越快),

BC 结变宽,基区变窄(多子/自由电子很快到集电极,发射极的电子发射能力不行,电子供给不够,导致基极电子少了,电流小)。

$V_{CE}$ 越大,$V_{BE}$ 也要跟着变大,电流才能一致,或者在 $i_E$ 处增加一个电流源,使其电流恒定。

放大的本质:自由电子从发射极到集电极。$V_{BE} $不变,发射极发射的电子不变,$i_E$ 不变,$V_{CE}$增大,$i_C$增大,$i_B$自然就减小了,$i_{E} = i_{C} + i_{B}$

  • 三极管的输出特性曲线

输出特性曲线:饱和区、放大区、截止区、击穿区

  • 三极管模型
  • 三极管的线性等效:直折线
  • 饱和区直流电路简化模型

通常,饱和压降 $V_{CE(set)} \approx \begin{cases}0.3V & Si\ 0.1V & Ge\end{cases}$

  • 放大区直流电路简化模型

发射结导通电压 $V_{BE(on)} = \begin{cases}0.7V & Si\ 0.2-0.3V & Ge\end{cases}$

  • 截止区直流电路简化模型
  • 例、静态工作点的近似计算(直折线模型)
graph TD
    subgraph "直流分析"
        step-s1[截止区]
        step-s2[放大区]
        step-s3[饱和区]
        step-1[画直流通路]
        step-2[看发射结是否导通]
        step-3[假设在放大区]
        step-4[否则在饱和区]

        step-1 --> step-2

        step-2 -->|no| step-s1
        step-2 -->|yes| step-3

        step-3 -->|yes| step-s2
        step-3 -->|no| step-4

        step-4 --> step-s3
    end
  • 放大区

    • $\begin{cases}V_{BE} \approx V_{BE(on)}\ I_C = \beta I_B\end{cases} \Rightarrow I_B、I_C、V_{CE}$
    • $NPN:V_{CE} > V_{CES}$,$PNP:V_{EC} > V_{ECS}$
  • 饱和区

    • $\begin{cases}V_{BE} \approx V_{BE(on)}\ V_{CE} \approx V_{CES}\end{cases}$
  • 三极管交流放大区小信号模型

$
{\large r_{be} = r_{bb’} + r_{b’e} }\
{\large\quad~ \approx r_{bb’} + \frac{26(mV)}{I_{BQ} } }\
{\large\quad~ \approx r_{bb’} + (1 + \beta)\frac{26(mV)}{I_{EQ} } }\
{\large\quad~ \approx r_{bb’} + \beta\frac{26(mV)}{I_{CQ} } }\
$

注意:小信号电路模型只能用来分析叠加在 $Q$ 点上各交流量之间的相互关系,不能分析直流参量。


1.13 场效应管的结构及电路符号

PN 结处处反偏,场效应管工作

多子 $S \to D$

$i_D \approx K(v_{GS} - v_{GS(off)})^2$

转移特性曲线:$i_D = I_{DO}(\frac{u_{GS} }{VGS(th)} - 1)^2$

  • 沟道:载流子流通的渠道、路径

    • N 沟道:以 N 型区作为路径
    • P 沟道:以 P 型区作为路径
  • 结型场效应管的结构示意图及电路符号

  • 绝缘栅场效应管的结构示意图及电路符号

绝缘栅场效应管:也称为 金属-氧化物-半导体型场效应管,简称为 MOS管

对 N 沟道增强型:

S 源极和 D 漏极之间要导电,需要通过栅极绝缘层下方称为沟道的区域。

一般 S 源极和 D 漏极均会和 P 型衬底之间形成 PN 结,导致 S 源极和 D 漏极无法导通。

要形成导电通道,必须在栅极加一定的电压,让沟道区域由 P 型衬底变成 N 型区

  • 另外

几个区:可变电阻区、横流区、夹断区、击穿区
也叫做:非饱和区、饱和区、截止区、击穿区

控制 G 栅极的电压,可以控制 S 源极和 D 漏极的电流,即控制 S 源极和 D 漏极的电阻,所以就得到一个电压控制的可变电阻器

  • 对于增强型:

$V_{GS(th)}$ 开启电压(th: threshold 阈值)

预夹断之后进入恒流区,$V_{GS}$ 可以控制 $i_D$

  • 对于耗尽型:

$V_{GS(off)}$ 关断电压


1.14 场效应管的工作原理及特性曲线

漏极不能做输入;栅极不能做输出。

简单来说,就是通过控制电压 $v_{GS}$ 和 $v_{DS}$ 控制电流 $v_{D}$,即受电压控制的电流源

  • 转移特性曲线

工作在饱和区的条件

场效应管类型 条件
N 沟道结型 ${\large \begin{cases}v_{DS} > v_{GS} - v_{GS(off)}\\ v_{GS(off)} > v_{GS} > 0\end{cases} }$
N 沟道耗尽型 ${\large \begin{cases}v_{DS} > v_{GS} - v_{GS(off)}\\ v_{GSs} > v_{GS(off)}\end{cases} }$
N 沟道增强型 ${\large \begin{cases}v_{DS} > v_{GS} - v_{GS(th)}\\ v_{GS} > v_{GS(th)}\end{cases} }$

转移特性关系

${\large i_D \approx K(v_{GS} - v_{GS(X)})^2 } ,~ X = th ~ or ~ off$

  • 输出特性曲线

工作状态及其条件和特点:

工作状态 条件 特点
非饱和区
(可变电阻区)
${\large v_{GS} > v_{GS(th)},~ v_{DS} < v_{GS} - v_{GS(th)} }$ $i_d$ 受 $v_{GS}$ 和 $v_{DS}$ 控制
饱和区
(恒流区)
${\large v_{GS} > v_{GS(th)},~ v_{DS} > v_{GS} - v_{GS(th)} }$ $i_d$ 受 $v_{GS}$ 控制,与 $v_{DS}$ 几乎无关
截止区 ${\large v_{GS} < v_{GS(th)} }$ $i_d = 0$
击穿区 应尽量避免工作在该区域
  • 三极管 & 场效应管

三极管的放大区和场效应管的饱和区特点一样:


三极管是双极性电流控制型器件,场效应管是单极性电压控制型器件。


文章作者: hhhhmdzz
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